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簡要描述:DVIA-T是韓國Daeil公司推出的先進的臺式主動防震/隔振平臺,旨在將納米級成像儀器與低頻振動隔離開來,并在1 Hz時提供40-80%的隔振。
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防振臺的主要功能是減少外部環(huán)境因素對天平稱量精度的影響,特別是減少地面震動、機械振動或人員活動等因素對天平稱量結果的干擾。通過提供穩(wěn)定的工作平臺,防震臺可以有效地降低這些干擾,確保稱量結果的準確性和可重復性。
防振臺特點:
1、低頻段隔振技術
在給超精密測量設備帶來影響的1-10Hz低頻段,DVIA-T系列發(fā)揮著出眾的隔振性能。DVIA-T系列在0.5Hz時,開始隔振,在10Hz時,提供99%的隔振性能。
2、自動調平
客戶的設備更換后,或是在設備位置變化、安裝地點移動等環(huán)境發(fā)生變化時,通過簡單的按鍵操作即可實現(xiàn)自動調平。
3、便于攜帶的設計
DVIA-T系列最小的型號為420 x 520 x 93 mm,25kg,客戶可以輕松攜帶,隨意在各處安裝使用。
4、提供最佳解決方案
我們自主開發(fā)了UI軟件,可根據(jù)客戶設備重量及安裝場所的狀態(tài)來調試軟件,提供最佳的解決方案。
5、所有功能用按鍵控制
DVIA-T由即插即用系統(tǒng)組成,所有功能均可用按鍵操控,只需連接AC電源即可使用隔振臺。
6、實時監(jiān)控
DVIA-T 系列使用專用UI 軟件,能夠實時監(jiān)控產品狀態(tài)和性能,并可通過LCD 前置面板確認振動及自動調平狀態(tài)。
7、?需壓縮空氣
DVIA-T由金屬彈簧組成,能夠隔離高頻段的振動,無需壓縮空氣。
防振臺應用領域
·掃描電?顯微鏡(SEM)
·原?力顯微鏡(AFM)
·掃描探針顯微鏡(SPM)
·光學顯微鏡
·共聚焦顯微鏡
·干涉測量
·顯微操縱
·納?壓痕儀
·超精密測量
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